Si/Co/Cu/Co多层膜中巨磁电阻效应及与微结构的关系

• 作者: 沈鸿烈
• 来源期刊: 南京航空航天大学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 巨磁电阻效应 平面内各向异性 电子束蒸发 多层膜
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 页码范围: 541-546
• 页数: 6页
• 分类号: O484.3|O482.4|O482.5
• 字数: 4456字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-2615.2005.05.001

摘要

用超高真空电子束蒸发方法在Si(100)衬底上制备了Si/Co/Cu/Co多层膜.发现当Si层厚度达到0.9 nm时,多层膜中开始出现较强的平面内各向异性巨磁电阻效应.在Si 1.5 nm/Co 5 nm/Cu 3 nm/Co 5 nm多层膜中,作者在其易轴上得到了5.5%的巨磁电阻值和0.7%/Oe的磁场灵敏度.用X射线衍射和透射电镜研究了Si/Co界面之间的相互扩散,发现在Si层与Co层间形成了Co-Si化合物层,这个硅化物界面层诱导了其上的Co/Cu/Co三明治膜中的平面内磁各向异性乃至整个多层膜的平面内各向异性巨磁电阻效应.原子力显微镜表面形貌分析表明,随Si层厚度增大,Co/Cu/Co三明治膜的界面平整度得到改善,从而使巨磁电阻值增大.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈鸿烈	南京航空航天大学材料科学与技术学院	93	264	9.0	10.0