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模拟IC＆分立器件:飞兆公司合围功率半导体市场
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摘要：
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基于ARM的半导体分立器件测试主机系统总线
ARM
S3C44BO
测试主机系统总线
半导体分立器件测试系统
半导体分立器件的可靠性工艺控制方法
半导体器件
质量
可靠性
工艺控制
半导体功率器件直流特性的自动脉冲测量
大功率场效应晶体管
自加热效应
脉冲电压
自动测量
半导体器件寿命计算
半导体器件
寿命计算
失效率
阿伦纽斯模型
内容分析
关键词云
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期刊影响力
电子经理世界
主办单位：
湖南大学
出版周期：
双月刊
ISSN：
1816-7039
CN：
43-1462/F
开本：
出版地：
北京市
邮发代号：
创刊时间：
2006
语种：
chi
出版文献量（篇）
403
总下载数（次）
0
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