高频锁相环的可测性设计

• 作者: 周红 陈晓东
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 可测性设计 边界扫描 锁相环 高频
• 年，卷（期）: 2005,（8）
• 所属期刊栏目: 测试与可靠性
• 页码范围: 23-26
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 3218字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2005.08.007

摘要

本文针对一款应用于大规模集成电路的CMOS高频锁相环,基于边界扫描技术进行了可测性设计.详细讨论了最高输出频率、输出频率范围和锁定时间参数的测试,给出了详细的测试电路和测试方法,仿真结果表明该方法有效可行.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周红	中科院微电子研究所	2	5	2.0	2.0
2	陈晓东	中科院微电子研究所	3	12	2.0	3.0