MCM基板互连测试的单探针路径优化研究

• 作者: 李智 莫玮 许君华 许川佩
• 来源期刊: 电路与系统学报
• 学科: 工学
• 关键词: MCM基板 互连测试 单探针 蚁群算法
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 135-139
• 页数: 5页
• 分类号: TP274|TN407
• 字数: 4223字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-0249.2005.01.030

摘要

针对MCM基板互连测试所采用的单探针技术,本文提出一种基于蚁群算法的单探针路径优化算法,通过设定合适的规则,引导探针的移动,缩短探针移动的距离,达到减少测试时间提高MCM生产效率的目的.从基于MCM标准电路的仿真结果看,采用蚁群算法得到的探针测试路径长度远远优于其它算法所得到的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许川佩	西安电子科技大学机电工程学院	124	676	13.0	19.0
3	李智	桂林电子工业学院电子工程系	123	891	16.0	23.0
4	莫玮	桂林电子工业学院电子工程系	40	255	9.0	14.0
7	许君华	桂林电子工业学院电子工程系	3	13	3.0	3.0