多芯片组件基板单探针测试路径的二次优化

• 作者: 徐如清 杨银堂 董刚 黄炜炜
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 单探针测试 模拟退火算法 二次优化
• 年，卷（期）: 2007,（10）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 1652-1655
• 页数: 4页
• 分类号: TN491
• 字数: 3041字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2007.10.031

摘要

基于模拟退火算法给出了一种可用于MCM互连基板单探针测试的二次优化方法,即采用模拟退火算法对启发式算法获得的MCM互连基板单探针测试路径进行二次优化改进.模拟结果显示,所提方法与已有的启发式优化算法相比较,对单探针路径的优化最高可达90.2%,可以有效地降低多芯片组件互连基板单探针测试的成本.