多芯片组件基板测试的新型组合算法

• 作者: 徐如清 杨银堂 董刚 黄炜炜
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 多芯片组件 单探针测试 启发式算法 模拟退火算法
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 页码范围: 2201-2204
• 页数: 4页
• 分类号: TN491
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2007.06.059

摘要

提出了一种用于多芯片组件互连测试的单探针路径优化的新型组合算法.首先使用启发式算法求出待优化问题的初始解,然后使用模拟退火算法对结果进行改进.模拟实验验证了所提算法的有效性.