拉曼光谱应用于硅微悬臂梁的应力特性测试

• 作者: 周兆英 张文栋 桑胜波 熊继军 薛晨阳
• 来源期刊: 中国机械工程
• 关键词: 微结构 应力 拉曼光谱 悬臂梁 质量块
• 年，卷（期）: 2005,（14）
• 所属期刊栏目: 微纳加工与测试及封装技术
• 页码范围: 1292-1295
• 页数: 4页
• 分类号: TH11
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-132X.2005.14.021

摘要

介绍了一种基于拉曼光谱频移来实现微结构应力测试的方法.利用该方法,实现了怂标准体硅腐蚀工艺形成的八梁支撑的微悬臂梁中应力分布的测试.测试结果表明:EPW体硅腐蚀形成的梁-质量块系统中梁与质量块上存在40～160MPa的张应力,微梁上的残余张应力平均达到100MPa;对微结构上的不同位置,边缘的残余应力普遍要比中心位置的大一些.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周兆英		205	3706	31.0	54.0
2	张文栋	中北大学仪器与动态测试教育部重点实验室	167	1172	16.0	26.0
3	薛晨阳	中北大学仪器与动态测试教育部重点实验室	136	765	14.0	21.0
4	熊继军	中北大学仪器与动态测试教育部重点实验室	111	702	13.0	19.0
8	桑胜波	中北大学仪器与动态测试教育部重点实验室	3	19	3.0	3.0