稳定可靠的新型半导体保护器件

• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 保护器件 半导体 VHF/UHF 电子元器件 可靠 元件损坏 高速系统 系统速度 接地技术
• 年，卷（期）: 2005,（8）
• 页码范围: 40-42
• 页数: 3页
• 分类号: TN13

摘要

造成电子元件损坏的原因 现在，电子元器件故障除静电直接放电外，附近的其他放电所产生的强电磁场也可能轻易地损坏今天的高速系统，且系统速度越快，越易受到影响。有实验表明：1～3ns的放电就可以产生强电磁场。在1 ns的时间内，放电相应带宽就高达300多兆赫，因此，现代高速系统一般都采用VHF／UHF屏蔽及接地技术。