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摘要:
提出一种基于几何统计特征的印鉴识别方法.待检印鉴图像经预处理并二值化后,依据样本印鉴匹配求得对应的差矩阵,再根据笔划差异在空间分布上的对应规律将差异点在矩阵中进行搜索和特征统计并抽取出三维的特征向量作为图像的主要差异特征并送入三层BP神经网络进行判决.该方法对印痕进行了结构化分析处理,能够区分盖印条件和伪造印鉴造成的误差.实验结果表明该方法同时具备同类印鉴的鲁棒性和异类印鉴的可靠性.
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文献信息
篇名 基于几何统计特征的印鉴自动识别算法
来源期刊 计算机工程与应用 学科 工学
关键词 印鉴识别 特征提取 模式识别 几何统计
年,卷(期) 2005,(27) 所属期刊栏目 博士论坛
研究方向 页码范围 4-6
页数 3页 分类号 TP391.41
字数 2167字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1002-8331.2005.27.002
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王逸飞 复旦大学信息科学与工程学院计算机科学与工程系 2 5 2.0 2.0
2 陈运文 复旦大学信息科学与工程学院计算机科学与工程系 2 5 2.0 2.0
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研究主题发展历程
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印鉴识别
特征提取
模式识别
几何统计
研究起点
研究来源
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期刊影响力
计算机工程与应用
半月刊
1002-8331
11-2127/TP
大16开
北京619信箱26分箱
82-605
1964
chi
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39068
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