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基于ARM的半导体分立器件测试主机系统总线
ARM
S3C44BO
测试主机系统总线
半导体分立器件测试系统
半导体分立器件的可靠性工艺控制方法
半导体器件
质量
可靠性
工艺控制
半导体器件寿命计算
半导体器件
寿命计算
失效率
阿伦纽斯模型
半导体器件寿命影响因素分析及处理方法
半导体器件
寿命
浪涌
静电
软启动
消浪涌电路
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 分立半导体器件市场己经见顶?/德州仪器:融合是产业发展推动力
来源期刊 世界电子元器件 学科
关键词
年,卷(期) 2006,(8) 所属期刊栏目 市场分析与趋势
研究方向 页码范围 111
页数 1页 分类号
字数 1483字 语种 中文
DOI
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2006(0)
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
世界电子元器件
月刊
1006-7604
11-3540/TN
16开
北京市北四环西路67号大地科技大厦1201-1218
82-796
1995
chi
出版文献量(篇)
5855
总下载数(次)
6
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