超大规模集成电路测试技术

• 作者: 朱莉 林其伟
• 来源期刊: 中国测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测试生成算法 自动测试矢量生成 可测性设计 内建自测试 存储器测试 静态功耗电流
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 电子测量与自动化控制
• 页码范围: 117-120
• 页数: 4页
• 分类号: TP29
• 字数: 4635字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-5124.2006.06.038

摘要

随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题.测试的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向.本文较全面的介绍了各种VLSI测试方法,并分析了各自的特点.最后预计了VLSI测试技术的发展趋势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林其伟	华侨大学信息学院物理电子学系	45	165	7.0	10.0
2	朱莉	华侨大学信息学院物理电子学系	3	29	1.0	3.0