晶体结构对Er/Yb共掺ZnO薄膜光致荧光特性的影响

• 作者: 张庆瑜 段淑卿 谭娜
• 来源期刊: 真空科学与技术学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 晶体结构 Er/Yb共掺ZnO薄膜 光致荧光
• 年，卷（期）: 2006,（z1）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 9-13
• 页数: 5页
• 分类号: O484
• 字数: 4855字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7126.2006.z1.003

摘要

采用脉冲磁控溅射技术制备了Er/Yb共掺ZnO薄膜,对不同退火温度下薄膜晶体结构和光致荧光(PL)光谱进行了系统分析,探讨了退火处理所导致的晶体结构变化以及反应新相的生成对Er3+离子激活、薄膜PL光谱的影响.研究结果表明,退火处理所导致的Er3+离子PL光谱的变化与薄膜的微观状态之间有着密切的联系.在室温到1050℃退火温度范围内,Er/Yb共掺ZnO薄膜为多晶结构,薄膜荧光强度的增加主要是薄膜内氧含量增加、缺陷减少使Er3+离子荧光寿命增加以及Er3+离子激活比例增加所致.当退火温度超过1050℃,荧光强度的明显降低是由新相生成造成缺陷增加以及薄膜内氧含量降低引起.在整个退火温度范围内,薄膜的PL光谱都表现为同一种光谱特性,即明锐的多峰结构,这说明Er3+在ZnO和Zn2SiO4中的周围环境非常相似.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张庆瑜	大连理工大学三束材料改性国家重点实验室	92	897	16.0	25.0
2	谭娜	大连理工大学三束材料改性国家重点实验室	4	22	3.0	4.0
3	段淑卿	大连理工大学三束材料改性国家重点实验室	3	18	2.0	3.0