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摘要:
为研究低温半导体器件如HgCdTe中长波红外探测器温度循环过程的失效机理,提出了一种基于LabVIEW的温度循环实验设备.LabVIEW既用于测试又用于步进电机等的控制,结构简单,运行高效.经过数千次温度循环实验表明,该设备运行比较稳定,能够满足对低温半导体器件的筛选要求.
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文献信息
篇名 基于LabVIEW的低温半导体器件温度循环系统
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 低温半导体 温度循环 步进电机
年,卷(期) 2006,(4) 所属期刊栏目 材料、结构及工艺
研究方向 页码范围 445-447
页数 3页 分类号 TN306
字数 1179字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-5868.2006.04.027
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 朱三根 中国科学院上海技术物理研究所传感技术国家重点实验室 13 125 6.0 11.0
2 龚海梅 中国科学院上海技术物理研究所传感技术国家重点实验室 69 451 10.0 18.0
3 任仁 中国科学院上海技术物理研究所传感技术国家重点实验室 11 64 6.0 7.0
4 吴礼刚 中国科学院上海技术物理研究所传感技术国家重点实验室 5 20 3.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
低温半导体
温度循环
步进电机
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
总下载数(次)
22
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