一种测试半导体制冷器的瞬态方法

• 作者: 吴洲 宫昌萌 常国强 钱瑞明 陈云飞 陈震
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体热电制冷器 瞬态测试方法 电阻电压 塞贝克电压
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 944-947
• 页数: 4页
• 分类号: TB66
• 字数: 2461字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2006.05.034

摘要

ZT值、最大制冷温差和响应时间是表征半导体制冷器性能的重要参数.文中介绍了一种能同时测量这三个参数的瞬态方法,并讨论了热沉对测试结果的影响.利用一个由恒流脉冲发生器和数据采集卡组成的简单测试系统测得制冷器在小电流下的电阻电压和塞贝克电压,通过这两个电压推导出ZT值、最大制冷温差.这种瞬态方法是非接触式测量,准确度高,可用于薄膜热电器件测试;另外瞬态方法耗时短,可大大缩短半导体制冷器可靠性测试的周期.采用这种方法对4mm×4mm×2.4mm的热电制冷器进行实验,环境温度300K时,测得ZT值为0.39,最大温差58.5K,响应时间20s.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	常国强	东南大学机械工程系	4	10	1.0	3.0
2	钱瑞明	东南大学机械工程系	60	416	12.0	17.0
3	陈震	东南大学机械工程系	2	22	2.0	2.0
4	宫昌萌	东南大学机械工程系	1	9	1.0	1.0
5	吴洲	东南大学机械工程系	2	10	1.0	2.0