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摘要:
硬件开发过程中,测试往往是影响产品的重要环节.纯硬件的测试往往受到设备及环境的影响,而如果完全用软件仿真,则速度太慢,影响开发进度.针对这种情况,作者提出一种软硬件协同测试的方法,利用FPGA实现PC机与待测设备的互连,不但充分利用了PC机的丰富资源,同时发挥出硬件工作速度快的特点.该系统采用FPGA完成控制功能,实现高速、实时的双向数据通道,同时,利用FPGA灵活设计待测设备的接口,使该系统可广泛应用于各种设备的测试与分析.
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文献信息
篇名 基于FPGA的软硬件协同测试的设计与实现
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 软硬件协同测试 通用串行总线 SDRAM控制器
年,卷(期) 2006,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1208-1210,1214
页数 4页 分类号 TP274.5
字数 3269字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2006.04.056
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张明 浙江大学信息与电子工程学系 91 722 15.0 22.0
2 郑伟 浙江大学信息与电子工程学系 115 788 15.0 23.0
3 徐元欣 浙江大学信息与电子工程学系 34 280 10.0 15.0
4 于源 浙江大学信息与电子工程学系 2 28 2.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
软硬件协同测试
通用串行总线
SDRAM控制器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
总下载数(次)
21
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