台积电和ARM合作降低65纳米低功耗测试芯片功耗

• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 功耗测试 ARM 芯片 纳米 合作 设计技术 低功耗 功率
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 页码范围: 129
• 页数: 1页
• 分类号: TP303.3

摘要

台积电和ARM日前联合宣布：双方在65纳米低功耗测试芯片上的设计合作显著降低了其动态功率和耗散（Leakage）功率。两家公司认为创新的低功耗设计技术对于最终的成功起到了关键的作用。