开放性实验减少集成电路损坏的方法及问题探讨

• 作者: 冷泉鑫
• 来源期刊: 青海师范大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 开放性实验 设计实验 集成电路 方法
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 页码范围: 62-64
• 页数: 3页
• 分类号: TM07
• 字数: 2047字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-7542.2007.01.018

摘要

在实验教学特别是开放性实验中,面对学生自主的理论验证、课题设计性实验的多种形式.由于学生对集成电路性能特点了解不够、使用不当而造成集成电路的损坏增多.本文通过分析和实践,归纳出集成电路性能的使用要点.掌握要点及使用方法,可有效减少或避免集成电路在实验中不必要的损失.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冷泉鑫	青海师范大学物理系	2	14	1.0	2.0