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摘要:
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内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 混合电路内引线键合可靠性研究
来源期刊 混合微电子技术 学科 工学
关键词 Au-Al键合 失效 键合可靠性
年,卷(期) 2007,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 44-50,38
页数 8页 分类号 TN405.96
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 宋莹 5 7 2.0 2.0
2 王磊 中国电子科技集团公司第43研究所工艺一部 76 167 6.0 10.0
传播情况
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引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
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二级引证文献  (0)
2007(0)
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研究主题发展历程
节点文献
Au-Al键合
失效
键合可靠性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
混合微电子技术
季刊
安徽省合肥市6068信箱(合肥市绩溪路260号)
出版文献量(篇)
1458
总下载数(次)
46
总被引数(次)
0
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