高纯、高度[100]择优取向金刚石薄膜

• 作者: 丰杰 李建国 梅军 王兵
• 来源期刊: 稀有金属材料与工程
• 学科: 工学
• 关键词: 金刚石薄膜 择优取向 电阻率
• 年，卷（期）: 2007,（z1）
• 页码范围: 942-945
• 页数: 4页
• 分类号: O484|TB43
• 字数: 3679字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-185x.2007.z1.266

摘要

采用独特的形核-刻蚀-生长-刻蚀-生长…循环沉积工艺,用微波等离子体化学气相沉积(MWPCVD)法制备出了高纯、高度[100]择优取向的金刚石薄膜.SEM和XRD分析表明得到的膜材具有很高的[100]择优取向性;Raman光谱和SEM对照分析证实膜材的金刚石相组成纯净度高,是高纯、高度[100]择优取向的织构金刚石薄膜.暗电流I-V特性测试结果表明,这种薄膜的电阻率达到1014数量级以上,比常规工艺制备的膜高近两个数量级,是一种性能优良的电子薄膜材料.理论分析表明,薄膜电阻率大幅度提高的原因在于膜层中非金刚石相含量的显著减少.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丰杰	中国工程物理研究院结构力学研究所	23	116	7.0	9.0
2	王兵	西南科技大学材料学院	41	255	9.0	14.0
3	李建国	中国工程物理研究院结构力学研究所	26	107	7.0	9.0
4	梅军	中国工程物理研究院结构力学研究所	30	240	9.0	14.0