原文服务方: 电子质量       
摘要:
Ni/Cu电极MLCC具有高可靠性、低成本的特点,但是耐中高压性能较差.本文通过下述设计与改进后的工艺制得耐中压的Ni/Cu电极MLCC:介质叠层40层,介质层厚度为55um,在高温烧结后在40PPM的O2中再氧化3小时,制作出容量为1μF,尺寸为3035规格,温度系数是X7R特性的MLCC产品,该MLCC平均耐电压达到了950V,可以满足500V工作电压的要求.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 Ni/Cu电极耐中压MLCC的试制
来源期刊 电子质量 学科
关键词 MLCC 设计 再氧化
年,卷(期) 2007,(5) 所属期刊栏目 可靠性分析与研究
研究方向 页码范围 36-38
页数 3页 分类号 TM286
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-0107.2007.05.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 肖培义 6 49 4.0 6.0
2 赖永雄 6 37 3.0 6.0
3 李基森 16 117 7.0 10.0
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研究主题发展历程
节点文献
MLCC
设计
再氧化
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
月刊
1003-0107
44-1038/TN
大16开
1980-01-01
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
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总被引数(次)
15176
论文1v1指导