流图法在光探测器芯片高频特性测量校准上的应用

• 作者: 任晓敏 吴强 李轶群 苗昂 黄永清 黄辉
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光探测器 高频响应 校准
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 448-452
• 页数: 5页
• 分类号: TN015
• 字数: 2810字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2007.03.025

摘要

在采用光调制法测量光探测器芯片高频响应特性的过程中,测试系统往往忽视光调制器响应、高频探针衰减以及端口间失配等误差中的一项或几项.为了降低校准不完善对结果造成的误差,文中提出了基于信号流图的系统校准分析方法,考虑了各种频响误差及端口间失配的影响,推导出校准公式.利用该法对一种光探测器的典型测试系统--基于LCA(lightwave component analyzer)的测试系统做了进一步校准分析,在130MHz～20GHz范围内,测量了一种新型光探测器的高频响应参数S21,结果表明经流图法校准的S21参数比仅使用原有校准算法有明显改善,证明了该方法的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄永清	北京邮电大学光通信与光波技术教育部重点实验室	196	987	13.0	18.0
2	任晓敏	北京邮电大学光通信与光波技术教育部重点实验室	189	942	13.0	18.0
3	黄辉	北京邮电大学光通信与光波技术教育部重点实验室	59	282	10.0	12.0
4	吴强	北京邮电大学光通信与光波技术教育部重点实验室	32	131	6.0	9.0
5	苗昂	北京邮电大学光通信与光波技术教育部重点实验室	11	54	5.0	7.0
6	李轶群	北京邮电大学光通信与光波技术教育部重点实验室	13	61	5.0	7.0