基于折叠集的低功耗测试

• 作者: 叶益群 张念 梁华国 祝沈财 蒋翠云
• 来源期刊: 计算机应用
• 学科: 工学
• 关键词: 编码 低功耗 折叠计数器 折叠种子
• 年，卷（期）: 2007,（12）
• 所属期刊栏目: 软件技术与典型应用
• 页码范围: 3119-3121,3125
• 页数: 4页
• 分类号: TP391.76
• 字数: 4164字
• 语种: 中文

摘要

提出了一种利用折叠计数器特点,基于完全测试集的低功耗测试方案.方案先用几个相关性很好的折叠集测试电路中大部分的故障,然后直接翻转扫描单元中的数据得到剩余故障的测试向量.在硬件上,采用一个地址计数器和随机访问扫描(Ransom Access Scan,RAS)结构相结合实现了并行的折叠控制.与传统的混合测试模式相比,克服了伪随机测试阶段带来的功耗问题.实验结果表明,该方案能够有效降低测试功耗和测试时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学计算机与信息学院	192	1611	19.0	30.0
2	蒋翠云	合肥工业大学理学院	21	373	9.0	19.0
3	祝沈财	合肥工业大学计算机与信息学院	4	13	3.0	3.0
4	张念	合肥工业大学计算机与信息学院	5	19	3.0	4.0
5	叶益群	合肥工业大学计算机与信息学院	4	13	3.0	3.0