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光刻设备中工件台激光测长原理
光刻设备中工件台激光测长原理
作者:
杨兴平
韦俊
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
激光干涉仪
塞曼效应
偏振
干涉
光刻设备
工件台
摘要:
通过对双频激光干涉仪的原理、结构、双频产生机理进行分析,阐述激光干涉仪在光刻设备中的实际应用,探讨激光干涉仪技术.
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文献信息
篇名
光刻设备中工件台激光测长原理
来源期刊
电子工业专用设备
学科
工学
关键词
激光干涉仪
塞曼效应
偏振
干涉
光刻设备
工件台
年,卷(期)
2008,(10)
所属期刊栏目
光刻技术与设备
研究方向
页码范围
28-35
页数
8页
分类号
TN305
字数
7191字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1004-4507.2008.10.005
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
韦俊
1
6
1.0
1.0
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杨兴平
2
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2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
激光干涉仪
塞曼效应
偏振
干涉
光刻设备
工件台
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
主办单位:
中国电子科技集团公司第四十五研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1004-4507
CN:
62-1077/TN
开本:
大16开
出版地:
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
邮发代号:
创刊时间:
1971
语种:
chi
出版文献量(篇)
3731
总下载数(次)
31
总被引数(次)
10002
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