基于FPGA的SRAM测试电路的设计与实现

• 作者: 丁学君
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 静态随机存储器 JTAG March C-算法 BIST
• 年，卷（期）: 2008,（11）
• 所属期刊栏目: 专业测试
• 页码范围: 28-30
• 分类号: TP274
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2008.11.009

摘要

文中介绍了一个基于Altera DE2开发板的面向字节的(Word-Oriented)SRAM测试电路的设计与实现.其测试算法采用了分为字内和字间测试两部分的高故障覆盖率的March C-算法;设计的测试电路可由标准的JTAG接口进行控制.本文设计的测试电路可以测试独立的SRAM模块或者作为内建自测试(BIST)电路测试嵌入式SRAM模块.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁学君	东北财经大学经济信息系	29	254	9.0	15.0