碲锌镉单晶片的退火方法

• 作者: 何知宇 唐世红 张冬敏 方军 朱世富 程曦 赵北君 高德友
• 来源期刊: 功能材料与器件学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 碲锌镉单晶片 退火 电阻率 XRD 红外透射谱
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 575-579
• 页数: 5页
• 分类号: O738
• 字数: 2637字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-4252.2008.03.003

摘要

探索了一种Cd1-xZnxTe(CZT)探测器晶片退火的新装置和新方法,该装置可以方便有效的对CZT单晶片进行同组分源退火研究.利用XRD、红外透射谱和晶体电阻率表征了采用该装置在富Cd的同组分CZT粉末源包裹下,选择适宜的退火温度和时间进行退火后的CZT单晶片,晶片的电阻率有一定的提高,红外透过率有一定改善.XRD分析表明,经过退火后,CZT单晶片中的cd组分含量有一定增加.采用该方法退火后,晶体品质有一定提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱世富	四川大学材料科学系	151	840	14.0	20.0
2	赵北君	四川大学材料科学系	132	744	14.0	19.0
3	何知宇	四川大学材料科学系	69	221	8.0	11.0
4	高德友	四川大学材料科学系	13	135	6.0	11.0
5	唐世红	四川大学材料科学系	18	98	5.0	9.0
6	程曦	四川大学材料科学系	6	79	3.0	6.0
7	方军	四川大学材料科学系	3	6	1.0	2.0
8	张冬敏	四川大学材料科学系	3	6	1.0	2.0