基于时间应力分析的机内测试系统综合降虚警技术

• 作者: 刘冠军 吕克洪 邱静
• 来源期刊: 航空学报
• 学科: 工学
• 关键词: 时间应力 机内测试 虚警 支持向量机 核主元分析 模糊聚类分析
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 电子与自动控制
• 页码范围: 1002-1006
• 页数: 5页
• 分类号: TP277
• 字数: 3316字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-6893.2008.04.038

摘要

虚警率高是困扰机内测试(BIT)系统得到广泛应用的主要原因.针对该问题,从机电系统所承受时间应力的角度构建了机内测试系统综合降低虚警技术的总体模型.首先采用双支持向量机(SVM)的方法将实时应力信息与机内测试诊断结果相互关联.在此基础上,提出了基于核主元模糊聚类的虚警识别方法将机电系统多源信息进行综合分析,并通过优化决策实现多级降低机内测试系统虚警的目的.最后,针对某型直升机航空地平仪的机内测试系统进行了试验验证与分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱静	国防科学技术大学机电工程与自动化学院	53	742	16.0	25.0
2	刘冠军	国防科学技术大学机电工程与自动化学院	47	710	15.0	25.0
3	吕克洪	国防科学技术大学机电工程与自动化学院	8	51	5.0	7.0