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摘要:
针对外部扰动对光电跟踪伺服系统精度的影响,对稳定回路提出了一种两自由度内模控制,将控制器的设计转化为标准的H∞优化问题,使得系统对模型误差及参数摄动具有较强的鲁棒性.采用jump变换、提升操作等采样控制系统的理论与方法来优化设计相应的鲁棒控制器,综合考虑了系统的多采样率行为及采样点间的动态特性.仿真结果表明,相比于传统的鲁棒控制器设计方法,所设计的多采样率控制器的鲁棒性能指标为1.413 5,能够更真实地反映光电跟踪伺服系统的多采样率特性对系统鲁棒性能的影响,且具有较高的指令跟踪精度及较强的扰动抑制性能.本文的研究为高精度光电跟踪伺服控制系统的设计提供了新方法.
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文献信息
篇名 基于采样控制理论的光电跟踪伺服系统内模控制
来源期刊 光学精密工程 学科 工学
关键词 光电跟踪 伺服系统 内模控制 鲁棒控制 采样控制
年,卷(期) 2008,(2) 所属期刊栏目 现代应用光学
研究方向 页码范围 221-228
页数 8页 分类号 TJ765
字数 5795字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1004-924X.2008.02.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 范大鹏 国防科学技术大学机电工程与自动化学院 62 839 16.0 26.0
2 张文博 国防科学技术大学机电工程与自动化学院 12 160 7.0 12.0
3 朱华征 国防科学技术大学机电工程与自动化学院 9 115 6.0 9.0
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研究主题发展历程
节点文献
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伺服系统
内模控制
鲁棒控制
采样控制
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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相关学者/机构
期刊影响力
光学精密工程
月刊
1004-924X
22-1198/TH
大16开
长春市东南湖大路3888号
12-166
1959
chi
出版文献量(篇)
6867
总下载数(次)
10
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98767
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