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基于EM算法的有先验范围的回归预测及应用研究
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摘要：
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零一膨胀泊松回归模型的EM算法改进
零一膨胀
计数数据
随机EM算法
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暗通道先验
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透射率
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基于密度检测的EM算法
期望最大化算法
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期刊影响力
管理观察
主办单位：
中国科学技术信息研究所(ISTIC)
科学技术文献出版社
出版周期：
旬刊
ISSN：
1674-2877
CN：
11-5688/F
开本：
16开
出版地：
北京市海淀区玉泉山南路三号（中坞新村）西1号楼
邮发代号：
2-634
创刊时间：
1981
语种：
chi
出版文献量（篇）
48292
总下载数（次）
96
总被引数（次）
61459
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