能谱仪在金属封装器件外观检测中的应用

• 作者: 寇艳丽 杨化宇 童坤 郭海霞
• 来源期刊: 现代测量与实验室管理
• 学科: 工学
• 关键词: 金属封装 腐蚀 能谱分析
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 计量测试
• 页码范围: 13-14
• 页数: 2页
• 分类号: TH842
• 字数: 1545字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-8764.2009.06.004

摘要

为了解决在电子元器件筛选或验收过程中,无法区分金属封装管壳是否存在腐蚀、玷污及暴露底层金属问题,介绍了一种通过能谱分析的方法,通过对表面可疑部位镀层材料成分的分析,能够准确的判别是否存在问题,并对产品是否能够接收提供科学的依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨化宇		3	12	3.0	3.0
2	郭海霞		5	18	3.0	4.0
3	寇艳丽		2	9	2.0	2.0
4	童坤		1	5	1.0	1.0