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如何保证集成电路的测试质量
集成电路测试
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CMOS集成电路的ESD设计技术
互补金属氧化物半导体
集成电路
静电放电
技术
设计
集成电路技术的发展趋势研究
集成电路技术
CMOS器件
系统集成芯片
工业控制
CMOS集成电路的抗辐射设计
CMOS集成电路
抗辐射加固
总剂量效应
单粒子效应
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 集成电路的老兵情结
来源期刊 中国制造业信息化 学科
关键词
年,卷(期) 2009,(8) 所属期刊栏目 特别报道
研究方向 页码范围 13
页数 分类号
字数 841字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-1616.2009.08.004
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1 马俊如 1 0 0.0 0.0
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相关学者/机构
期刊影响力
机械设计与制造工程
月刊
2095-509X
32-1838/TH
大16开
南京市长虹路445号
28-220
1964
chi
出版文献量(篇)
9471
总下载数(次)
10
总被引数(次)
36304
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