低功耗测试研究进展

• 作者: 方芳 杨年宏 王伟 王杰 陈田
• 来源期刊: 合肥工业大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 测试功耗 低功耗 芯片设计
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 计算机与信息工程
• 页码范围: 769-773,785
• 页数: 6页
• 分类号: TP391.76
• 字数: 6829字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-5060.2009.06.001

摘要

随着CMOS器件进入纳米时代,测试时产生的功耗大大超过系统正常工作时的功耗,测试功耗已成为影响芯片设计的重要因素,芯片测试时的低功耗技术也已经成为当前学术界和工业界的一个研究热点.文章首先介绍了低功耗测试技术的基本概念,分析测试中的静态功耗和动态功耗;其次,分类介绍目前常用的测试功耗控制技术;然后,对研究热点的变化和技术发展的趋势做出说明.