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浅谈SEM＆EDS在PCB失效分析中的应用
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摘要：
IPCB失效原因越来越多，在以前看起来难以发现的问题，现在可以用电子扫描显微镜与能谱（SEM＆EDS）分析出来。本文介绍了在PCB生产过程中利用SEM＆EDS发现的三个较为经典的案例，介绍了该技术在实际解决问题过程中的关键作用。
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文献信息
| 篇名 | 浅谈SEM＆EDS在PCB失效分析中的应用 | ||
| 来源期刊 | 印制电路资讯 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | SEM&EDS PCB失效分析 | ||
| 年，卷（期） | yzdlzx_2009,（5） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 87-88 | |
| 页数 | 2页 | 分类号 | TN41 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
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研究主题发展历程
节点文献
SEM&EDS
PCB失效分析
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期刊影响力
印制电路资讯
主办单位：
广东省电路板行业协会
深圳市线路板行业协会
出版周期：
双月刊
ISSN：
2070-8467
CN：
开本：
出版地：
广东省深圳市南山区南山大道1088号南园
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
7384
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15
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