基于LabVIEW的MOS电容高频C-V特性测试平台研究

• 来源期刊: 仪表技术与传感器
• 学科: 工学
• 关键词: MOS C-V特性 带通滤波 计算机控制 LabVIEW编程
• 年，卷（期）: 2009,（10）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 108-110
• 页数: 3页
• 分类号: TM93
• 字数: 1809字
• 语种: 中文

摘要

文中介绍了一种基于LabVIEW的MOS电容C-V特性测试仪.该测试仪采用二次滤波(滤波-放大-滤波)替代传统的变频放大技术;通过数据采集卡对检测结果进行数据采集,然后通过计算机处理,并用LabVIEW编程输出结果,同时通过数据采集卡的输出来控制待测MOS电容两端电压的变化,从而实现对MOS电容的准确测量.