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摘要:
对真空单晶用多晶硅真空区熔提纯技术进行了分析,通过理论实践相结合,对真空区熔提纯过程中的提纯速率、熔区长度、提纯次数以及其它工艺参数进行了分析,制定了获得目标电阻率、型号、直径的有效区熔提纯工艺.
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文献信息
篇名 多晶硅真空区熔提纯技术研究
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 多晶硅 提纯 提纯速率
年,卷(期) 2010,(8) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 16-19
页数 分类号 TN304.051
字数 3406字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-4507.2010.08.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 闫萍 中国电子科技集团公司第四十六研究所 16 35 4.0 5.0
2 张殿朝 中国电子科技集团公司第四十六研究所 11 28 3.0 4.0
3 马玉通 中国电子科技集团公司第四十六研究所 13 31 4.0 5.0
4 栾国旗 中国电子科技集团公司第四十六研究所 3 8 2.0 2.0
5 高颖 中国电子科技集团公司第四十六研究所 1 4 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
多晶硅
提纯
提纯速率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
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10002
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