基于晶体管级参数提取的后仿真

• 作者: 刘皓 孙大成 王爽
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 时钟电路 晶体管级参数提取 版图仿真
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 8-9
• 分类号: TN4
• 字数: 1839字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2010.05.003

摘要

介绍了时钟电路芯片的功能,给出了Star-RCXT(RC参数提取工具)的晶体管级参数提取及后仿真流程,详细描述了一些基于晶体管级参数提取的版图后仿真设计经验,给出了设计的前、后仿真的输出对比结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王爽	中国电子科技集团公司第四十七研究所	14	50	3.0	7.0
2	孙大成	中国电子科技集团公司第四十七研究所	11	21	3.0	4.0
3	刘皓	吉林大学电子科学与工程学院	11	10	1.0	3.0