电容器长期贮存可靠性研究

• 作者: 李坤兰 邱森宝
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 电容器 贮存可靠性 失效率 失效模式 贮存敏感参数 贮存寿命
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 70-73
• 分类号: TM53
• 字数: 2640字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2010.09.020

摘要

在A(寒温)、B(亚湿热-入海口)、C(亚湿热-内陆),D(热带海洋)四地开展了14个型号电容器的150个月贮存试验,研究了累积失效样品数变化趋势、贮存失效模式、贮存敏感参数和贮存寿命.结果表明:A地较适合电容器长期贮存;电容器的主要贮存失效模式是参数超差,贮存敏感参数是漏电流或损耗角正切;在这14种电容器中,有机薄膜电容器贮存可靠性最好,平均贮存寿命远超150个月;铝电解电容器(CDK-X)贮存可靠性最差,平均贮存寿命仅为1.875个月.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李坤兰		3	16	2.0	3.0
2	邱森宝		1	7	1.0	1.0