超大规模集成电路设计中漏泄功耗的最小化和开发利用

• 作者: 贾红书
• 来源期刊: 国外科技新书评介
• 学科: 工学
• 关键词: 超大规模集成电路 集成电路设计 开发利用 功耗 漏泄 手持式电子产品 最小化 VLSI电路
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 15
• 页数: 1页
• 分类号: TN47

摘要

超大规模集成电路（VLSI）的耗电量一直以惊人的速度增长。随着耗电量以及对便携式／手持式电子产品需求的不断增加，功率消耗成为VLSI电路设计中的主要问题。以往的电路设计中，动态（开关）电源是IC总功耗的主体，目前漏泄功耗已经成为在VLSI电路总功率消耗的重要组成部分。因此，降低漏泄功率对便携式／如手机及PDA的手持式电子产品尤其重要。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	贾红书	中国科学院理化技术研究所	20	16	2.0	4.0