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低功耗测试向量产生技术的研究
低功耗
测试
测试向量产生
测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响
测试向量
测试功耗
功耗优化
海明距离
双阈值VLSI低测试功耗方法研究
测试功耗
电压调节
漏电流优化
测试向量
一种低功耗BIST测试方法
寄存器传输级
内建自测试
故障模型
随机抵抗性故障
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 温度/功耗测试以及全文总结
来源期刊 现代计算机(普及版) 学科
关键词
年,卷(期) 2010,(9) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 24
页数 分类号
字数 917字 语种 中文
DOI
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相关学者/机构
期刊影响力
现代计算机(普及版)
月刊
1007-1423
44-1415/TP
16开
广东省广州市
46-205
1985
chi
出版文献量(篇)
7135
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4
总被引数(次)
3032
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