STS2106A数字集成电路测试系统的开发与应用

• 作者: 方岚 焦贵忠 田波 郑宇
• 来源期刊: 集成电路通讯
• 学科: 工学
• 关键词: 封装测试 2106A 适配器 矢量表
• 年，卷（期）: jcdltx_2011,（1）
• 页码范围: 35-40
• 页数: 6页
• 分类号: TN407

摘要

为了使STS2106A数字集成电路测试系统（以下简称2106A）能够最大限度的在生产测试中发挥作用，本文针对性地以大批量测试的一款集成电路为例来开发STS2106A数字集成电路测试系统，使其能够应用到生产当中。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方岚		13	0	0.0	0.0
2	焦贵忠		6	0	0.0	0.0
3	田波		3	0	0.0	0.0
4	郑宇		5	0	0.0	0.0