一种电子元器件高加速寿命试验指标的探讨

• 作者: 张鼎周
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 可靠性 高加速寿命试验 半数失效时间
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 所属期刊栏目: 认证与实验室
• 页码范围: 64-66
• 分类号: TN306
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2011.10.037

摘要

高加速寿命试验用于识别设计缺陷和制造问题,提高设计强度极限,但不能评估产品的可靠性。该文在分析了产品可靠性可以通过相对性评估的基础上,探讨了在高加速寿命试验的框架下的半数失效时间（FT50）评价指标和试验方法,并讨论了它用于电子元器件可靠性评估的方式。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张鼎周		7	31	3.0	5.0