脉冲激光试验在宇航器件和电路系统抗单粒子效应设计中的初步应用

• 作者: 上官士鹏 封国强 张玉靖 蔡明辉 陈睿 韩建伟 马英起
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 工学
• 关键词: 单粒子效应 宇航器件 卫星电路系统 脉冲激光
• 年，卷（期）: 2011,（2）
• 所属期刊栏目: 空间环境模拟试验与仿真
• 页码范围: 121-125
• 页数: 5页
• 分类号: V416.5|TN406
• 字数: 3006字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2011.02.004

摘要

抗单粒子效应加固是宇航器件研发和卫星电路系统设计面临的重要难题.准确、有效的单粒子效应试验评估对此问题的解决有巨大帮助.中国科学院空间科学与应用研究中心于近十年在国内自主发展了用于单粒子效应评估的脉冲激光试验相关装置、试验技术和方法,对宇航器件和卫星电路开展了初步应用.通过脉冲激光试验,能够快速甄别、定位宇航器件试样的单粒子效应薄弱点,以及快速地摸底评估出芯片的整体加固性能.对于卫星电路系统,脉冲激光试验不仅能够快速摸底评估拟用器件的抗单粒子效应性能,而且能够针对芯片空间分布和电路时序变化进行扫描和定点测试,验证加固效果.