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摘要:
描述了电子工业日益盛行时代的超声扫描技术.通过超声扫描使电子封装产品的无损检测有了新的突破.主要介绍了超声扫描所面临的挑战及相应的检测设备.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 超声扫描技术及设备
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 超声扫描 缺陷 无损检测 检测设备
年,卷(期) 2011,(5) 所属期刊栏目 封装与测试
研究方向 页码范围 32-36,57
页数 分类号 TN948.43
字数 6050字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-4507.2011.05.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张继静 中国电子科技集团公司第四十五研究所 11 23 2.0 4.0
2 连军莉 中国电子科技集团公司第四十五研究所 10 23 3.0 4.0
传播情况
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引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
超声扫描
缺陷
无损检测
检测设备
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
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