NI模块扩展PXI平台的功能，降低半导体研究分析和测试的成本——每个引脚数字参数测量和高密度的源测量单元模块都是半导体研究、测试的理想选择

• 来源期刊: 自动化信息
• 学科: 工学
• 关键词: PXI平台 单元模块 参数测量 生产测试 设备成本 半导体 NIP 功能
• 年，卷（期）: 2011,（10）
• 页码范围: 72
• 页数: 1页
• 分类号: TN407

摘要

美闷国家仪器有限公苦1（简称NI）扩展其PXI平台的功能，通过新发布的每个引脚参数测量单元模块（PPMU）和源测量单元模块（SMU）用于半导体的特性描述和生产测试。NIPXIe-6556200MHz高速数字I／O具备PPMU，NIPXIe-4140和NIPXIe-4141四通道的SMU可降低资本设备成本，缩短测试时间，并提升各种测试设备的混合信号灵活性。