基于双电源电压和双阈值电压的全局互连性能优化

• 作者: 刘嘉 杨银堂 董刚 薛萌
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 工学
• 关键词: 全局互连 双电源电压 双阈值电压 功耗
• 年，卷（期）: 2011,（4）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质:结构、力学和热学性质
• 页码范围: 502-509
• 分类号: TN402
• 语种: 中文

摘要

基于双电源电压和双阈值电压技术,提出了一种优化全局互连性能的新方法.文中首先定义了一个包含互连延时、带宽和功耗等因素的品质因子用以描述全局互连特性,然后在给定延时牺牲的前提下,通过最大化品质因子求得优化的双电压数值用以节省功耗.仿真结果显示,在65 nm工艺下,针对5%,10%和20%的允许牺牲延时,所提方法相较于单电压方法可分别获得27.8%,40.3%和56.9%的功耗节省.同时发现,随着工艺进步,功耗节省更加明显.该方法可用于高性能全局互连的优化和设计.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨银堂	西安电子科技大学微电子所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	420	2932	23.0	32.0
2	董刚	西安电子科技大学微电子所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	36	121	7.0	9.0
3	刘嘉	西安电子科技大学微电子所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	3	10	1.0	3.0
4	薛萌	西安电子科技大学微电子所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室	1	1	1.0	1.0