基于神经网络的数字电路串扰时滞故障测试生成

• 作者: 危厚琴 曹伟 李艳娟
• 来源期刊: 煤矿机械
• 学科: 工学
• 关键词: 神经网络 串扰时滞故障 测试生成算法
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 故障·诊断
• 页码范围: 263-264
• 分类号: TN79|TP306
• 字数: 1683字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0794.2011.03.112

摘要

针对数字电路中多侵略线串扰时滞故障将使电路不能正常工作的问题,提出了一种有效的测试生成算法.该算法首先使用Kemighan-Lin-Fiduccia-Mattheyses(KLFM)方法在受害点处把电路分为左右2个部分,然后对右半部分电路采用神经网络算法把故障效应传播到输出端,最后对左半部分电路根据受害点时滞故障的方程计算出受害点的最大串扰时滞故障测试生成矢量.在ISCAS'85和ISCAS'89国际标准电路上的实验结果表明本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试生成时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李艳娟	东北林业大学信息学院	29	78	4.0	8.0
2	曹伟	哈尔滨理工大学测控技术与通讯工程学院	22	95	6.0	9.0
3	危厚琴	北华大学电气信息工程学院	6	6	2.0	2.0