全外显子组测序在常染色体隐性遗传病致病基因克隆中的应用策略

• 作者: 沈璐 胡兆婷 詹自雄
• 来源期刊: 中华医学遗传学杂志
• 关键词: 外显子组测序 常染色体隐性遗传 致病基因 基因克隆
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 558-561
• 页数: 4页
• 字数: 4813字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3760/cma.j.issn.1003-9406.2012.05.012

摘要

全外显子组测序(whole-exome sequencing,WES)是近年发展起来的一种先应用靶向富集技术捕获基因组的外显子区域,再通过高通量测序获得编码区序列遗传信息的分析技术.该技术目前已被广泛应用于孟德尔单基因遗传病,特别是常染色体隐性遗传病的基因克隆.作者对近期全外显子组测序技术在常染色体隐性遗传病致病基因克隆中的应用策略进展进行了综述.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈璐	中南大学湘雅医院神经内科	46	125	6.0	8.0
2	詹自雄	中南大学湘雅医院神经内科	2	2	1.0	1.0
3	胡兆婷	中南大学湘雅医院神经内科	1	1	1.0	1.0