基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
俄歇电子能谱(AES)是目前用于固体最表层原子元素标识的一种方法,对于许多先进电子设备的研发至关重要,而且也广泛应用于从气相化学到纳米结构表征等多个领域。
推荐文章
场发射俄歇电子能谱显微分析
显微分析
场发射俄歇电子能谱(FE-AES)
扫描俄歇电子能谱探针(SAM)
俄歇像
场发射电子枪
微电子器件
X射线诱导俄歇电子能谱(XAES)的应用
X射线诱导俄歇电子能谱(XAEs)
俄歇参数
X射线光电子谱(XPS)
化学位移
砷化镓(GaAs)
氧化锌(ZnO)
伴随内转换电子发射的俄歇电子能量及强度计算
俄歇电子
发射强度计算
内转换电子
核衰变
俄歇电子谱术
俄歇现象
俄歇电子谱术
表面分析
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 平行俄歇电子分析仪
来源期刊 电脑与电信 学科 工学
关键词 俄歇电子能谱 分析仪 平行 电子设备 结构表征 气相化学
年,卷(期) 2012,(7) 所属期刊栏目 国际合作项目推荐
研究方向 页码范围 25-25
页数 1页 分类号 TN304.055
字数 1122字 语种 中文
DOI
五维指标
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
2012(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
俄歇电子能谱
分析仪
平行
电子设备
结构表征
气相化学
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电脑与电信
月刊
1008-6609
44-1606/TN
大16开
广州市连新路171号国际科技中心B108室
1995
chi
出版文献量(篇)
8962
总下载数(次)
13
总被引数(次)
9565
论文1v1指导