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摘要:
恩智浦半导体日前推出业内首款2mm×2mm、采用可焊性镀锡侧焊盘的超薄DFN(分立式扁平无引脚)封装MOSFET。这些独特的侧焊盘提供光学焊接检测的优势,与传统无引脚封装相比,焊接连接质量更好。
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二维分布特征
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镀通孔
焊盘应力
边界条件
温度
几何参数
Mirman模型
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 恩智浦超小型MOSFET采用可焊性镀锡侧焊盘
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 MOSFET 可焊性 焊盘 镀锡 超小型 引脚封装 连接质量 半导体
年,卷(期) 2012,(7) 所属期刊栏目 行业快讯
研究方向 页码范围 57-57
页数 1页 分类号 TN386.1
字数 785字 语种 中文
DOI
五维指标
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2012(0)
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研究主题发展历程
节点文献
MOSFET
可焊性
焊盘
镀锡
超小型
引脚封装
连接质量
半导体
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
出版文献量(篇)
3731
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31
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