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摘要:
研究了用PECVD薄膜沉积设备制作氮化硅薄膜的透过率。通过改变沉积工艺参数,研究了沉积温度、射频功率、SiH4流量和腔体压强对薄膜透过率曲线的影响,并分析影响原因。
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文献信息
篇名 PECVD沉积氮化硅薄膜的透过率研究
来源期刊 科技创新导报 学科 工学
关键词 氮化硅薄膜 透过率 PECVD
年,卷(期) 2012,(32) 所属期刊栏目 研究报告
研究方向 页码范围 13-15,17
页数 4页 分类号 O472.31|TN305.92
字数 2771字 语种 中文
DOI
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序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 宋江婷 泉州轻工职业学院机电工程系 8 12 1.0 3.0
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氮化硅薄膜
透过率
PECVD
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2004
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