一种射频识别卡电路的可测性设计

• 作者: 居水荣 景为平 李环
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 非接触式 射频卡 可测试性设计
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 页码范围: 26-30,45
• 页数: 6页
• 分类号: TN402
• 字数: 3153字
• 语种: 中文

摘要

随着CMOS器件进入深亚微米阶段，集成电路的规模、复杂度以及测试成本都急剧提高，与此同时人们对集成电路的可靠性要求也越来越高。集成电路系统的测试是一个费时而艰巨的过程，必须综合考虑到测试的功能、性能等诸多问题，并能以较低的成本来实现较高质量的测试，因此对超大规模集成电路的测试研究已成为IC设计中不可缺少的一部分。而可测试性设计（DFT）就是通过增加辅助电路来降低电路的测试难度、从而降低其测试成本的一种测试。文章针对一款非接触式射频卡电路，分析了其工作原理和模块组成，研究了其测试电路，通过对输出端口信息的测试，可以清楚地知道内部各模块的功能与性能，达到了验证电路可靠性的目的。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	景为平	南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室	55	267	9.0	13.0
2	李环	南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室	1	0	0.0	0.0
3	居水荣	南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室	1	0	0.0	0.0